EN 60749-4-2002 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：湿热持续状态下的高加速试验(HAST)
EN 60749-4-2002 标准详情
- 标准号：EN 60749-4-2002
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：湿热持续状态下的高加速试验(HAST)
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002) / Note: Endorsement notice
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2002/08/01
内容简介
Gives a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
