IEC 60748-11-1-1992 半导体器件 集成电路 第11部分:第1节:半导体集成电路(不包括混合电路)内部目检
IEC 60748-11-1-1992 标准详情
- 标准号：IEC 60748-11-1-1992
- 中文标题：半导体器件 集成电路 第11部分:第1节:半导体集成电路(不包括混合电路)内部目检
- 英文标题：Semiconductor devices; integrated circuits; part 11; section 1: internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：1992-04
内容简介
Purpose of the tests is to check the internal materials, construction and workmanship for compliance with the requirements of the applicable specification. The tests will normally be used prior to capping or encapsulation on a 100 % inspection basis
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