ASTM F76-1986 标准详情
- 标准号：ASTM F76-1986
- 中文标题：测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
- 英文标题：test methods for measuring resistivity and hall coefficient and determining hall mobility in single-crystal semiconductors
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1986-10-31
ASTM F76-1986 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
内容简介
CONTAINED IN VOL. 10.04, 2006Gives methods for measuring resistivity and Hall coefficientof single-crystal semiconductor specimens, which differ substantially in requirements.
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