ISO 17470-2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
ISO 17470-2004 标准详情
- 标准号：ISO 17470-2004
- 中文标题：微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
- 英文标题：Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
- 标准类别：国际标准化组织标准ISO
- 发布日期：2004-09
内容简介
ISO 17470:2004 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements, within a specific volume, contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spec
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