LST EN 60749-35-2007 标准详情
- 标准号：LST EN 60749-35-2007
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第35部分：声学显微镜用于塑料封装的电子元器件（ IEC 60749-35 ： 2006）
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006)
- 标准类别：立陶宛标准LST
- 发布日期：2007-05-31
