EIA JESD 22-A117-2009 标准详情
- 标准号：EIA JESD 22-A117-2009
- 中文标题：
- 英文标题：Electrically Erasable Programmable Rom (eeprom) Program/erase Endurance And Data Retention Test
- 标准类别：美国电子工业协会EIA
- 发布日期：
EIA JESD 22-A117-2009
内容简介
Establishes a standard procedure for determining the data cycling endurance and data retention capability of non-volatile memory cells. It is intended as a qualification and monitor test procedure. This test is also applicable to FLASH EEPROM integra
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