LST EN 60749-29-2004 标准详情
- 标准号：LST EN 60749-29-2004
- 中文标题：半导体器件，机械和气候试验方法第29部分：闩锁测试（ IEC 60749-29 ： 2003）
- 英文标题：Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2003)
- 标准类别：立陶宛标准LST
- 发布日期：2004-07-15
LST EN 60749-29-2004 半导体器件，机械和气候试验方法第29部分：闩锁测试（ IEC 60749-29 ： 2003）
内容简介
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