EIA JESD35-1-1995 标准详情
- 标准号：EIA JESD35-1-1995
- 中文标题：用于设计测试结构为薄电介质的晶片级测试的一般准则
- 英文标题：general guidelines for designing test structures for the wafer-level testing of thin dielectrics
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：1995-01-01
EIA JESD35-1-1995 用于设计测试结构为薄电介质的晶片级测试的一般准则
内容简介
Expands the usefulness of the Standard 35 (JESD35) by detailing the various sources of measurement error that could effect the test results obtained by the ramped tests described in JESD35.
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