ASTM F980M-1996(2003) 测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南(米制单位)
ASTM F980M-1996(2003) 标准详情
- 标准号：ASTM F980M-1996(2003)
- 中文标题：测量硅半导体器件中中子感应位移故障的快速退火用标准指南(米制单位)
- 英文标题：Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1996
内容简介
1.1 This guide defines the requirements and procedures for testing silicon discrete semiconductor devices and integrated circuits for rapid-annealing effects from displacement damage resulting from neutron radiation. This test will produce degradatio
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