EIA 364-87-2009 标准详情
- 标准号：EIA 364-87-2009
- 中文标题：
- 英文标题：Nanosecond Event Detection Test Procedure For Electrical Connectors, Contacts And Sockets
- 标准类别：美国电子工业协会EIA
- 发布日期：
EIA 364-87-2009
内容简介
Defines methods for detecting events that can be as short as 1 nanosecond. The methods are for detection of sample failure events resulting from short-duration large resistance fluctuations, or voltage variations that may result in improper triggerin
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