DLA MIL-PRF-19500/704 D-2012 半导体器件，场效应辐射硬化（总剂量和单事件效应）晶体管， n沟道，硅，类型2n7485u3 ， 2n7486u3 ， 2n7487u3和2n7555u3 jantxvr和jansr
DLA MIL-PRF-19500/704 D-2012 标准详情
- 标准号：DLA MIL-PRF-19500/704 D-2012
- 中文标题：半导体器件，场效应辐射硬化（总剂量和单事件效应）晶体管， n沟道，硅，类型2n7485u3 ， 2n7486u3 ， 2n7487u3和2n7555u3 jantxvr和jansr
- 英文标题：semiconductor device, field effect radiation hardened (total dose and single event effects) transistor, n-channel, silicon, types 2n7485u3, 2n7486u3, 2n7487u3, and 2n7555u3 jantxvr and jansr
- 标准类别：美国国防部后勤局标准DLA
- 发布日期：2012-07-18
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