DLA MIL-PRF-19500/740 (1)-2012 半导体器件，场效应辐射硬化（总剂量和单事件效应）四晶体管， n沟道和p沟道，硅类型2n7521u ， 2n7522u ， 2n7525和2n7526 ， jantxvr和f和jansr和f

DLA MIL-PRF-19500/740 (1)-2012 标准详情

• 标准号：DLA MIL-PRF-19500/740 (1)-2012
• 中文标题：半导体器件，场效应辐射硬化（总剂量和单事件效应）四晶体管， n沟道和p沟道，硅类型2n7521u ， 2n7522u ， 2n7525和2n7526 ， jantxvr和f和jansr和f
• 英文标题：semiconductor device, field effect radiation hardened (total dose and single event effects) quad transistor, n-channel and p-channel, silicon types 2n7521u, 2n7522u, 2n7525, and 2n7526, jantxvr and f and jansr and f
• 标准类别：美国国防部后勤局标准DLA
• 发布日期：2012-06-15