ISO 14606-2000 标准详情
- 标准号：ISO 14606-2000
- 中文标题：表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
- 英文标题：Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials
- 标准类别：国际标准化组织标准ISO
- 发布日期：2000-10
ISO 14606-2000 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
内容简介
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：