JEDEC JESD22A121.01-2005 标准详情
- 标准号：JEDEC JESD22A121.01-2005
- 中文标题：测量锡和锡合金表面须晶生长的试验方法
- 英文标题：test method for measuring whisker growth on tin and tin alloy surface finishes
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：2005
JEDEC JESD22A121.01-2005 测量锡和锡合金表面须晶生长的试验方法
内容简介
The predominant terminal finishes on electronic components have been Sn-Pb alloys. As theindustry moves toward Pb-free components and assembly processes, the predominant terminalfinish materials will be pure Sn and alloys of Sn, including Sn-Bi and S
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