EN 60749-40-2011 标准详情
- 标准号：EN 60749-40-2011
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 部分40 ：用应变仪板级跌落试验方法
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 40: board level drop test method using a strain gauge
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2011-09-02
EN 60749-40-2011 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 部分40 ：用应变仪板级跌落试验方法
内容简介
Provides a procedure to evaluate and compare drop performance of a surface mount semiconductor device for handheld electronic product applications in an accelerated test environment, where excessive flexure of a circuit board causes product failure.
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