EIA JESD 390-1981 标准详情
- 标准号：EIA JESD 390-1981
- 中文标题：标准测试程序，对噪声容限测量半导体逻辑门控微型
- 英文标题：Standard Test Procedure For Noise Margin Measurements For Semiconductor Logic Gating Microcircuits
- 标准类别：美国电子工业协会EIA
- 发布日期：
EIA JESD 390-1981 标准测试程序，对噪声容限测量半导体逻辑门控微型
内容简介
Defines the dc (Steady-State) Noise margin and the ac (Transient) Noise Margin in Semiconductor Logic Grating Microcircuits, and to describe the procedures used to measure these parameters. The standardization of the definitions and test procedures a
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：