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EIA CB13-1990 X射线荧光测量对于镀层厚度

EIA CB13-1990 X射线荧光测量对于镀层厚度

EIA CB13-1990 标准详情

  • 标准号:EIA CB13-1990
  • 中文标题:X射线荧光测量对于镀层厚度
  • 英文标题:X-ray Fluorescence For Measuring Plating Thickness
  • 标准类别:美国电子工业协会EIA
  • 发布日期:

内容简介

All of the numerous techniques currently being used for measuring plating thickness have peculiar application and limitations. Basic economics, however, demands that for measuring gold thicknesses in the commonly used plating thicknesses range, a sys

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