JEDEC JEP121A-2006 标准详情
- 标准号：JEDEC JEP121A-2006
- 中文标题：微电子闪变和测试优化要求
- 英文标题：requirements for microelectronic screening and test optimization
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：2006-10-01
JEDEC JEP121A-2006 微电子闪变和测试优化要求
内容简介
This document defines the methodology for the optimization (elimination, reduction, or alternativeapproach) of the MIL-PRF-38535 screening and testing requirements for MIL-PRF-38535, Classes Q andV, Microcircuits. Inherent in this methodology is the
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