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LST EN 15991-2011 陶瓷和基本材料测试 - 直接测定中的粉末和碳化硅的颗粒通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热气化杂质质量分数的( ETV)

LST EN 15991-2011 陶瓷和基本材料测试 - 直接测定中的粉末和碳化硅的颗粒通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热气化杂质质量分数的( ETV)

LST EN 15991-2011 标准详情

  • 标准号:LST EN 15991-2011
  • 中文标题:陶瓷和基本材料测试 - 直接测定中的粉末和碳化硅的颗粒通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热气化杂质质量分数的( ETV)
  • 英文标题:Testing of ceramic and basic materials - Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (ICP OES) with electrothermal vaporisation (ETV)
  • 标准类别:立陶宛标准LST
  • 发布日期:2011-04-29

内容简介

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