DIN EN 60749-7-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:内部水分含量测量和其他残留气体分析
DIN EN 60749-7-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-7-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:内部水分含量测量和其他残留气体分析
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2002); German version EN 60749-7:2002
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-04
内容简介
The purpose of this part of DIN EN 60749 is to test and measure the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. It is applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but gener
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
