当前位置:首页国外标准

ASTM F1048-1987(1999) 标准试验方法对由总积分散射测量光学元件的有效表面粗糙度

ASTM F1048-1987(1999) 标准试验方法对由总积分散射测量光学元件的有效表面粗糙度

ASTM F1048-1987(1999) 标准详情

  • 标准号:ASTM F1048-1987(1999)
  • 中文标题:标准试验方法对由总积分散射测量光学元件的有效表面粗糙度
  • 英文标题:standard test method for measuring the effective surface roughness of optical components by total integrated scattering
  • 标准类别:美国材料与试验协会ASTM
  • 发布日期:1987

内容简介

This standard was transferred to SEMI (www.semi.org) May 20031.1 This test method covers the measurement of the effective surface roughness of an opaque reflecting surface as determined by the total integrated light scattering (TIS). 1.2 Applicati

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习,研究使用。如有侵权,请及时联系我们!

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
    ③ 代购正版,联系:联系邮箱