IEC/PAS 62164 Ed. 1.0 标准详情
- 标准号：IEC/PAS 62164 Ed. 1.0
- 中文标题：
- 英文标题：Guidelines for GAAs MMIC and FET life testing
- 标准类别：国际电工委员会IEC
- 发布日期：
IEC/PAS 62164 Ed. 1.0
内容简介
Applies both to packaged and unpackaged devices. Where the devices are bare die or in packages not suitable for stressing except in sockets, additional failures may occur, due to the packaging.
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