IEC 60747-11-1985 标准详情
- 标准号：IEC 60747-11-1985
- 中文标题：半导体器件 分立器件 第11部分:分立器件分规范
- 英文标题：Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11 : Sectional Specification for discrete devices
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：1985
IEC 60747-11-1985 半导体器件 分立器件 第11部分:分立器件分规范
内容简介
Applicable to quality assessment for discrete semiconductor devices. Gives specific requirements for quality conformance inspection (included in QC 750000 of the IECQ system) and identification of terminals; represents the sectional specification. Co
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