ASTM F528-1999(2005) 标准详情
- 标准号：ASTM F528-1999(2005)
- 中文标题：结型晶体管共射极直流增益测量的标准试验方法
- 英文标题：Standard Test Method of Measurement of Common-Emitter D-C Current Gain of Junction Transistors
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1999
ASTM F528-1999(2005) 结型晶体管共射极直流增益测量的标准试验方法
内容简介
1.1 This test method covers the measurement of common-emitter d-c current gain (forward, hFE, or inverted, hFEI) of bipolar transistors, for which the collector-emitter leakage current, ICEO, is less than 10% of the collector current, IC, at which th
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