EIA TIA/EIA-455-225-2002 标准详情
- 标准号：EIA TIA/EIA-455-225-2002
- 中文标题：FOTP -225 IEC 61745端面图像分析程序光纤几何测试设备的校准
- 英文标题：fotp-225 iec 61745 end face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：2002-05-01
EIA TIA/EIA-455-225-2002 FOTP -225 IEC 61745端面图像分析程序光纤几何测试设备的校准
内容简介
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：
下载说明
「相关推荐」
- 1EIA TIA/EIA-455-225-2002 FOTP -225 IEC 61745端面图像分析程序光纤几何测试设备的校准
- 2EIA TIA/EIA-455-225-2002 FOTP -225 IEC 61745端面图像分析程序光纤几何测试设备的校准
- 3EIA TIA/EIA-455-225-2002 FOTP -225 IEC 61745端面图像分析程序光纤几何测试设备的校准
- 4EIA TIA/EIA-455-225-2002 FOTP -225 IEC 61745端面图像分析程序光纤几何测试设备的校准
- 5EIA TIA/EIA-455-225-2002 FOTP -225 IEC 61745端面图像分析程序光纤几何测试设备的校准