EN 60749-37-2008 标准详情
- 标准号：EN 60749-37-2008
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第37部分:使用加速计的板级跌落试验方法
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 37: board level drop test method using an accelerometer
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2008-04-01
EN 60749-37-2008 半导体器件.机械和气候试验方法.第37部分:使用加速计的板级跌落试验方法
内容简介
Provides a test method that is intended to evaluate and compare drop performance of surface mount electronic components for handheld electronic product applications in an accelerated test environment, where excessive flexure of a circuit board causes
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