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JEDEC JESD22-C101B.01-2004 电场感应带电器件模型试验方法electrostatic-放电承受微电子元件的阈值

JEDEC JESD22-C101B.01-2004 电场感应带电器件模型试验方法electrostatic-放电承受微电子元件的阈值

JEDEC JESD22-C101B.01-2004 标准详情

  • 标准号：JEDEC JESD22-C101B.01-2004
  • 中文标题：电场感应带电器件模型试验方法electrostatic-放电承受微电子元件的阈值
  • 英文标题：field-induced charged-device model test method for electrostatic- discharge-withstand thresholds of microelectronic components
  • 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
  • 发布日期：

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