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ISO/TR 18392-2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序

ISO/TR 18392-2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序

ISO/TR 18392-2005 标准详情

  • 标准号:ISO/TR 18392-2005
  • 中文标题:表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
  • 英文标题:Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Procedures for determining backgrounds
  • 标准类别:国际标准化组织标准ISO
  • 发布日期:2005-12

内容简介

ISO/TR 18392:2005 gives guidance for determining backgrounds in X-ray photoelectron spectra. The methods of background determination described are applicable for evaluation of spectra of photoelectrons and Auger electrons excited by X-rays from solid

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