JEDEC JEP122C-2006 标准详情
- 标准号：JEDEC JEP122C-2006
- 中文标题：硅半导体器件的故障机制和模式
- 英文标题：failure mechanisms and models for silicon semiconductor devices
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：2006-03-01
JEDEC JEP122C-2006 硅半导体器件的故障机制和模式
内容简介
Accelerated tests are typically used to find and identify potential failure mechanisms in semiconductordevices and to estimate the rate of their occurrence in electronic systems. The historical approach toinvestigating the relationship between a maxi
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：