IEC 62526-2007 标准详情
- 标准号：IEC 62526-2007
- 中文标题：半导体设计环境用标准试验接口语言(STIL)扩展标准
- 英文标题：Standard for extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for semiconductor design environments
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2007-11
IEC 62526-2007 半导体设计环境用标准试验接口语言(STIL)扩展标准
内容简介
Structures are defined in STIL to support usage as semiconductor simulation stimulus, including(1) mapping signal names to equivalent design references, (2) interface between scan and built-in self test(BIST) and the logic simulation, (3) data types
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