BS DD ENV 50219-1996 标准详情
- 标准号：BS DD ENV 50219-1996
- 中文标题：欧洲微型试验芯片可靠性试验结构的描述
- 英文标题：Description of the reliability test structures of the European mini test chip
- 标准类别：英国标准
- 发布日期：1996-09-15
BS DD ENV 50219-1996 欧洲微型试验芯片可靠性试验结构的描述
内容简介
Documents the parametrized test structures of the JESSI Reliability Test Chip (RTC) which is part of the European Mini Test Chip (ETC).
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：