DIN 50436-1976 标准详情
- 标准号：DIN 50436-1976
- 中文标题：无机半导体材料的试验.用堆垛缺陷法测量硅外延生长层的冶金厚度
- 英文标题：Testing of semi-conducting inorganic materials - Measurement of the metalurgic thickness of epitaxial layers of silicon by the stacking fault method
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：1976-10
