JEDEC JESD22-B108A-2003 标准详情
- 标准号：JEDEC JESD22-B108A-2003
- 中文标题：表面装贴半导体仪器的共面性测试
- 英文标题：coplanarity test for surface-mount semiconductor devices
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：2003-01-01
JEDEC JESD22-B108A-2003 表面装贴半导体仪器的共面性测试
内容简介
The purpose of this test is to measure the deviation of the terminals (leads or solder balls) fromcoplanarity for surface-mount semiconductor devices.
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