ASTM F744M-1997(2003) 标准详情
- 标准号：ASTM F744M-1997(2003)
- 中文标题：数字集成电路的干扰用剂量阈值测量的标准试验方法(米制)
- 英文标题：Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1997
ASTM F744M-1997(2003) 数字集成电路的干扰用剂量阈值测量的标准试验方法(米制)
内容简介
1.1 This test method covers the measurement of the threshold level of radiation dose rate that causes upset in digital integrated circuits under static operating conditions. The radiation source is either a flash X-ray machine (FXR) or an electron li
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：