BS ISO 17470-2004 微电子束分析.电子探测微观分析.用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
BS ISO 17470-2004 标准详情
- 标准号：BS ISO 17470-2004
- 中文标题：微电子束分析.电子探测微观分析.用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
- 英文标题：Microbeam analysis Electron probe microanalysis Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry Analyse par microfaisceaux. Analyse par microsonde electronique (Microsonde de Castaing). Lignes directrices pour
- 标准类别：英国标准
- 发布日期：2004-09-29
内容简介
This International Standard gives guidance for the identification of elements and the investigation of thepresence of specific elements within a specific volume (on a μm3 scale) contained in a specimen, byanalysing X-ray spectra obtained using wavele
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