IEC 60749-2 CORR 1-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-2 CORR 1-2003
- 中文标题：
- 英文标题：semiconductor devices. mechanical and climatic test methods. part 2:low air pressure corrigendum 1 dispositifs a semiconducteurs. methodes d’essais mecaniques et climatiques. partie 2:basse pression atmospherique corrigendum 1 first edition
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：
