ISO 22493-2008 标准详情
- 标准号：ISO 22493-2008
- 中文标题：微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
- 英文标题：microbeam analysis -- scanning electron microscopy -- vocabulary
- 标准类别：国际标准化组织标准ISO
- 发布日期：2008-09-19
ISO 22493-2008 微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
内容简介
ISO 22493:2008 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in IS
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