JEDEC JESD90-2004 标准详情
- 标准号：JEDEC JESD90-2004
- 中文标题：为测量P路 MOSFET负偏压温度不稳定性的规程
- 英文标题：a procedure for measuring p-channel mosfet negative bias temperature instabilities
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：2004-11-01
JEDEC JESD90-2004 为测量P路 MOSFET负偏压温度不稳定性的规程
内容简介
Negative Bias Temperature Instabilities (NBTI) experienced by p-channel MOSFETs over time are animportant reliability concern in modern microcircuits. The physical nature of the NBTI damage is notcompletely understood. It is believed that the NBTI da
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