TIA/EIA 455-130-2007 标准详情
- 标准号：TIA/EIA 455-130-2007
- 中文标题：
- 英文标题：Elevated Temperature Life Test For Laser Diodes
- 标准类别：美国电信工业协会TIA
- 发布日期：
TIA/EIA 455-130-2007
内容简介
Aims to obtain a set of parameters that describe the reliability of the device population, the determination of an activation energy due to either temperature or current density is beyond the scope of this FOTP.
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