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IEC/TR 61967-4-1-2005 集成电路.150 khz-1 khz电磁释放量的测量.第4部分:传导释放量的测量.1ω-150ω直接耦合法 iec 61967-2指南

IEC/TR 61967-4-1-2005 集成电路.150 khz-1 khz电磁释放量的测量.第4部分:传导释放量的测量.1ω-150ω直接耦合法 iec 61967-2指南

IEC/TR 61967-4-1-2005 标准详情

  • 标准号:IEC/TR 61967-4-1-2005
  • 中文标题:集成电路.150 khz-1 khz电磁释放量的测量.第4部分:传导释放量的测量.1ω-150ω直接耦合法 iec 61967-2指南
  • 英文标题:integrated circuits - measurement of electromagnetic emissions, 150 khz to 1 ghz - part 4-1: measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method - application guidance to iec 61967-4
  • 标准类别:国际电工委员会标准
  • 发布日期:2005-02-07

内容简介

SERVES AS AN APPLICATION GUIDANCE AND RELATES TO IEC 61967-4. THE DIVISION OF IC TYPES INTO -> IC FUNCTION MODULES AND THE SOFTWARE MODULES FOR -> CORES WITH CPU CAN BE USED FOR PARTS 3, 5 AND 6 OF IEC 61967. GIVES ADVICE FOR PERFORMING TEST METHODS

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