JEDEC EIA-323-1966 标准详情
- 标准号：JEDEC EIA-323-1966
- 中文标题：半导体器件同名终端功能的编号和多单元半导体器件的单元命名
- 英文标题：air-convection-cooled life test environment for lead-mounted semiconductor devices
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1966-03-01
JEDEC EIA-323-1966 半导体器件同名终端功能的编号和多单元半导体器件的单元命名
内容简介
This standard is applicable to life testing of lead-mounted semiconductor devices intended for applicationsin a Natural-Air-Cooled environment where most (> 90%) of the power dissipation is obtainedby convection and radiation losses from the body of
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