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DIN EN 61967-4-2006 集成电路.150 kHz - 1 kHz 电磁辐射的测量.第4部分:传导释放量的测量.1Ω/150Ω直接耦合法 (IEC 61967-4:2002 + A1:2006)

DIN EN 61967-4-2006 集成电路.150 kHz - 1 kHz 电磁辐射的测量.第4部分:传导释放量的测量.1Ω/150Ω直接耦合法 (IEC 61967-4:2002 + A1:2006)

DIN EN 61967-4-2006 标准详情

  • 标准号:DIN EN 61967-4-2006
  • 中文标题:集成电路.150 kHz - 1 kHz 电磁辐射的测量.第4部分:传导释放量的测量.1Ω/150Ω直接耦合法 (IEC 61967-4:2002 + A1:2006)
  • 英文标题:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method (IEC 61967-4:2002 + A1:2006); German version EN 61967-4:2002 + A1:2006
  • 标准类别:德国标准
  • 发布日期:2006-07

内容简介

This part of DIN EN 61967 specifies a method to measure the conducted electromagnetic emision (EME) of integrated circuits by direct radio frequency (RF) current measurement with a 1 O resistive probe and RF voltage measurement using a 150 O coupling

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