IEEE N42.31-2003 标准详情
- 标准号：IEEE N42.31-2003
- 中文标题：测量程序的宽禁带半导体的电离辐射的检测器的分辨率和效率
- 英文标题：measurement procedures for resolution and efficiency of wide-bandgap semiconductor detectors of ionizing radiation
- 标准类别：国际电工协会标准IEEE
- 发布日期：2003-02-20
IEEE N42.31-2003 测量程序的宽禁带半导体的电离辐射的检测器的分辨率和效率
内容简介
Measurement and test procedures are established for wide-bandgap semiconductor detectors such as cadmium-telluride (CdTe) cadmium-zinc-telluride (CdZnTe), and mercuric iodide (HgI2) that can be used at room temperature for the detection and quantitat
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