NEN EN IEC 60749-26-2007 标准详情
- 标准号：NEN EN IEC 60749-26-2007
- 中文标题：
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 26: Electrostatic Discharge (esd) Sensitivity Testing - Human Body Model (hbm)
- 标准类别：荷兰国家标准NEN
- 发布日期：
NEN EN IEC 60749-26-2007
内容简介
Defines a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined human body model(HBM) electrostatic discharge (ESD).
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