ASTM F77-1969 标准详情
- 标准号：ASTM F77-1969
- 中文标题：电子器件及半导体设备用陶瓷表观密度的试验方法
- 英文标题：test method for apparent density of ceramics for electron device and semiconductor application
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1969-10-17
ASTM F77-1969 电子器件及半导体设备用陶瓷表观密度的试验方法
内容简介
1.1 This test method covers the determination of the apparent density of ceramic parts, used in electron device and semiconductor applications, with a maximum dimension of 25 mm (1 in.) and having zero or discontinuous porosity. 1.2 The values stat
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