DIN EN 62374-2008 标准详情
- 标准号：DIN EN 62374-2008
- 中文标题：半导体器件.与时间有关的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
- 英文标题：Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007); German version EN 62374:2007
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2008-02
