IEEE 1181-1991 标准详情
- 标准号：IEEE 1181-1991
- 中文标题：CMOS和BiCMOS集成电路工艺表征的锁存试验方法推荐规程
- 英文标题：recommended practice for latchup test methods for cmos and bicmos integrated-circuit process characterization
- 标准类别：国际电工协会标准IEEE
- 发布日期：1991
IEEE 1181-1991 CMOS和BiCMOS集成电路工艺表征的锁存试验方法推荐规程
内容简介
Provides recommendations for the layout and test methods required to properly characterize the latchup behavior in CMOS and BiCMOS integrated-circuit processes that have similar lateral PNPN topographical layout characteristics.
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：