JEDEC JEP128-1996 标准详情
- 标准号：JEDEC JEP128-1996
- 中文标题：Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南
- 英文标题：guide for standard probe pad sizes and layouts for wafer-level electrical testing
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1996-01-01
JEDEC JEP128-1996 Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南
内容简介
This guide applies to double- and single-column arrays of metal probe pads, on a semiconductorwafer or chip, that are electrically connected to one or more test structures.
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