IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法
IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第11部分:温度的急速变化.双液电镀槽法
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2003-08
内容简介
This standard is Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2.
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
