IEEE 1149.7-2009 标准详情
- 标准号：IEEE 1149.7-2009
- 中文标题：缩减管脚和增强功能试验存取端口和边界扫描架构
- 英文标题：reduced-pin and enhanced-functionality test access port and boundary-scan architecture ieee computer society
- 标准类别：国际电工协会标准IEEE
- 发布日期：2009-12-09
IEEE 1149.7-2009 缩减管脚和增强功能试验存取端口和边界扫描架构
内容简介
Specifies a debug and test interface that meets an expanding set of challenges facing Debug and Test Systems while preserving the hardware and software investments of the many industries currently using IEEE Std 1149.1-2001.
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